史密斯英特康（Smiths Interconnect)在线研讨会_史密斯英特康（Smiths Interconnect)研讨会在线精彩回放

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5G时代对高速QFN测试提出的挑战

主讲人：刘德先
时间：2021年06月23日 10:00 - 11:00
会议类型：在线语音研讨会

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万物互联时代，5G应用相关的芯片的复杂程度对测试插座的性能也提出越来越高的要求。芯片设计、制造、甚至测试本身，都会带来一定的失效，如何测试设计处理的芯片达到设计目标？史密斯英特康通过分析全新的Joule 20 QFN测试插座的结构设计，性能和成本考量方面硬核普及QFN测试插座的作用，带你参加一场QFN测试的旅行。

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